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·摘要：本文介绍一种手机翻盖耐久性测试系统。该系统由National Instruments 公司的PXI-8186 控制器、PXI-7344、UMI-7764、YASKAWA 公司的SGDL-04AS 伺服单元和SGML-04AF12 伺服电机以及基于虚拟仪器的用户界面组成。该测试系统使用虚拟仪器使系统规模最小化，提高系统的稳定性且易于维护和扩展...