包含基于VHDL语言的ADC采样的 整个工程文件，代码中选用数码管动态扫描方式输出。
上传时间： 2013-07-19
上传用户：xuan‘nian
闸流管和双向可控硅应用的十条黄金原则 中文的，很值得学习
上传时间： 2013-08-02
上传用户：270189020
中文 DSP2812芯片 管脚 中文 说明
上传时间： 2013-06-25
上传用户：lepoke
二三极管场效应管代码查询，供选择器件时使用。
上传时间： 2013-07-11
上传用户：上善若水
单片机系统的数码管显示驱动和键盘扫描以单片机为核心的很多仪器都需要数码管显示驱动和键盘扫描，三种具体方案如下供参考：一、经典方案：使用8279 芯片
上传时间： 2013-07-28
上传用户：tianjinfan
1. 数码管显示原理 数码的显示方式一般有三种： 第一种是字型重叠式； 第二种是分段式； 第三种是点阵式。 目前以分段式应用最为普遍，主要器件是七段发光二极管（LED）显示器。它可分为两种， 一是共阳极显示器（发光二极管的阳极都接在一个公共点上） ，另一是共阴极显示器（发光 二极管的阳极都接在一个公共点上，使用时公共点接地） 。 EXCD-1 开发板使用的数码管为四位共阴极数码管， 每一位的共阴极 7 段数码管由 7个 发光 LED 组成，呈“ ”字状，7 个发光 LED 的阴极连接在一起，阳极分别连接至 FPGA 相应引脚。SEG_SEL1、SEG_SEL2、SEG_SEL3 和 SEG_SEL4 为四位 7 段数码管的位选择 端。当其值为“1”时，相应的 7 段数码管被选通。当输入到 7 段数码管 SEG_A~ SEG_G和 EG_DP 管脚的数据为高电平时，该管脚对应的段变亮，当输入到 7 段数码管 SEG_A~ EG_G和 SEG_DP 管脚的数据为低电平时，该管脚对应的段变灭。
上传时间： 2013-05-23
上传用户：66666
数码管码表计算器,数码管码表计算器数码管码表计算器数码管码表计算器
上传时间： 2013-08-02
上传用户：极客
红外对管检测装置.pdf
上传时间： 2013-05-21
上传用户：klin3139
随着网络时代的发展，人们越来越离不开网络，网络硬件的安全性、可靠性越发重要。即使是短暂的网络中断也可能给人们的生活带来极大的影响，这使得人们对网络相关设备的管理监控实时性的需求越来越高。这就要求网络运营商需要对远近端网络设备进行监控，在网络出现问题时能及时发现并加以解决，实现网络预防和及时维护功能，提高网络运营商对用户的服务质量。 本文主要就是基于该背景提出的一种解决方案。本文采用的SNMP协议提供了一种对这些网络设备进行有效管理的技术基础。本文的主要思路是在ARM9开发板原有的软硬件基础上及ARM-LINUX系统上，主要利用SNMP服务器来实现对网络设备监控网管的功能，并在SNMP服务器中添加企业MIB节点，实现管理企业特定的设备。同时本文也介绍了在系统中利用BOA服务器来实现动态WEB刷新，利用BUSYBOX添加新命令等方法，初步实现一套具有特定网管功能的网管系统。 本文的创新之处在于不仅采用利用SNMP开发网管系统的流行做法，同时还利用BOA服务器将动态WEB技术应用到网管系统中。该做法的创新之处在于摆脱以往需要开发对应的网管平台软件来管理的局限，同时支持利用WEB浏览器就能监控到网络设备的做法。BOA服务器技术支持利用任何一种WEB浏览器就能监控到网络设备的工作状态，从而大大满足了网络管理员的管理需求。因此该技术可以广泛的应用于网络设备的实时监控中。
上传时间： 2013-04-24
上传用户：huxz911
随着半导体工艺的飞速发展和芯片设计水平的不断进步，ARM微处理器的性能得到大幅度地提高，同时其芯片的价格也在不断下降，嵌入式系统以其独有的优势，己经广泛地渗透到科学研究和日常生活的各个方面。 本文以ARM7 LPC2132处理器为核心，结合盖革一弥勒计数管对Time-To-Count辐射测量方法进行研究。ARM结构是基于精简指令集计算机(RISC)原理而设计的，其指令集和相关的译码机制比复杂指令集计算机要简单得多，使用一个小的、廉价的ARM微处理器就可实现很高的指令吞吐量和实时的中断响应。基于ARM7TDMI-S核的LPC2132微处理器，其工作频率可达到60MHz，这对于Time-To-Count技术是非常有利的，而且利用LPC2132芯片的定时/计数器引脚捕获功能，可以直接读取TC中的计数值，也就是说不再需要调用中断函数读取TC值，从而大大降低了计数前杂质时间。本文是在我师兄吕军的《Time-To-Count测量方法初步研究》基础上，使用了高速的ARM芯片，对基于MCS-51的Time-To-Count辐射测量系统进行了改进，进一步论证了采用高速ARM处理器芯片可以极大的提高G-M计数器的测量范围与测量精度。 首先，讨论了传统的盖革-弥勒计数管探测射线强度的方法，并指出传统的脉冲测量方法的不足。然后讨论了什么是Time-To-Count测量方法，对Time-To-Count测量方法的理论基础进行分析。指出Time-To-Count方法与传统的脉冲计数方法的区别，以及采用Time-To-Count方法进行辐射测量的可行性。 接着，详细论述基于ARM7 LPC2132处理器的Time-To-Count辐射测量仪的原理、功能、特点以及辐射测量仪的各部分接口电路设计及相关程序的编制。 最后得出结论，通过高速32位ARM处理器的使用，Time-To-Count辐射测量仪的精度和量程均得到很大的提高，对于Y射线总量测量，使用了ARM处理器的Time-To-Count辐射测量仪的量程约为20 u R/h到1R/h，数据线性程度也比以前的Time-To-CotJnt辐射测量仪要好。所以在使用Time-To-Count方法进行的辐射测量时，如何减少杂质时间以及如何提高计数前时间的测量精度，是决定Time-To-Count辐射测量仪性能的关键因素。实验用三只相同型号的J33G-M计数管分别作为探测元件，在100U R/h到lR/h的辐射场中进行试验.每个测量点测量5次取平均，得出随着照射量率的增大，辐射强度R的测量值偏小且与辐射真实值之间的误差也随之增大。如果将测量误差限定在10％的范围内，则此仪器的量程范围为20 u R/h至1R/h，量程跨度近六个数量级。而用J33型G-M计数管作常规的脉冲测量，量程范围约为50 u R/h到5000 u R/h，充分体现了运用Time-To-Count方法测量辐射强度的优越性，也从另一个角度反应了随着计数前时间的逐渐减小，杂质时间在其中的比重越来越大，对测量结果的影响也就越来越严重，尽可能的减小杂质时间在Time-To-Count方法辐射测量特别是测量高强度辐射中是关键的。笔者用示波器测出此辐射仪器的杂质时间约为6.5 u S，所以在计算定时器值的时候减去这个杂质时间，可以增加计数前时间的精确度。通过实验得出，在标定仪器的K值时，应该在照射量率较低的条件下行，而测得的计数前时间是否精确则需要在照射量率较高的条件下通过仪器标定来检验。这是因为在照射量率较低时，计数前时间较大，杂质时间对测量结果的影响不明显，数据线斜率较稳定，适宜于确定标定系数K值，而在照射量率较高时，计数前时间很小，杂质时间对测量结果的影响较大，可以明显的在数据线上反映出来，从而可以很好的反应出仪器的性能与量程。实验证明了Time-To-Count测量方法中最为关键的环节就是如何对计数前时间进行精确测量。经过对大量实验数据的分析，得到计数前时间中的杂质时间可分为硬件杂质时间和软件杂质时间，并以软件杂质时间为主，通过对程序进行合理优化，软件杂质时间可以通过程序的改进而减少，甚至可以用数学补偿的方法来抵消，从而可以得到比较精确的计数前时间，以此得到较精确的辐射强度值。对于本辐射仪，用户可以选择不同的工作模式来进行测量，当辐射场较弱时，通常采用规定次数测量的方式，在辐射场较强时，应该选用定时测量的方式。因为，当辐射场较弱时，如果用规定次数测量的方式，会浪费很多时间来采集足够的脉冲信号。当辐射场较强时，由于辐射粒子很多，产生脉冲的频率就很高，规定次数的测量会加大测量误差，当选用定时测量的方式时，由于时间的相对加长，所以记录的粒子数就相对的增加，从而提高仪器的测量精度。通过调研国内外先进核辐射测量仪器的发展现状，了解到了目前最新的核辐射总量测量技术一Time-To-Count理论及其应用情况。论证了该新技术的理论原理，根据此原理，结合高速处理器ARM7 LPC2132，对以G-计数管为探测元件的Time-To-Count辐射测量仪进行设计。论文以实验的方法论证了Time-To-Count原理测量核辐射方法的科学性，该辐射仪的量程和精度均优于以前以脉冲计数为基础理论的MCS-51核辐射测量仪。该辐射仪具有量程宽、精度高、易操作、用户界面友好等优点。用户可以定期的对仪器的标定，来减小由于电子元件的老化对低仪器性能参数造成的影响，通过Time-To-Count测量方法的使用，可以极大拓宽G-M计数管的量程。就仪器中使用的J33型G-M计数管而言，G-M计数管厂家参考线性测量范围约为50 u R/h到5000 u R/h，而用了Time-To-Count测量方法后，结合高速微处理器ARM7 LPC2132，此核辐射测量仪的量程为20 u R/h至1R/h。在允许的误差范围内，核辐射仪的量程比以前基于MCS-51的辐射仪提高了近200倍，而且精度也比传统的脉冲计数方法要高，测量结果的线性程度也比传统的方法要好。G-M计数管的使用寿命被大大延长。 综上所述，本文取得了如下成果：对国内外Time-To-Count方法的研究现状进行分析，指出了Time-To-Count测量方法的基本原理，并对Time-T0-Count方法理论进行了分析，推导出了计数前时间和两个相邻辐射粒子时间间隔之间的关系，从数学的角度论证了Time-To-Count方法的科学性。详细说明了基于ARM 7 LPC2132的Time-To-Count辐射测量仪的硬件设计、软件编程的过程，通过高速微处理芯片LPC2132的使用，成功完成了对基于MCS-51单片机的Time-To-Count测量仪的改进。改进后的辐射仪器具有量程宽、精度高、易操作、用户界面友好等特点。本论文根据实验结果总结出了Time-To-Count技术中的几点关键因素，如：处理器的频率、计数前时间、杂质时间、采样次数和测量时间等，重点分析了杂质时间的组成以及引入杂质时间的主要因素等，对国内核辐射测量仪的研究具有一定的指导意义。
标签： TimeToCount ARM 辐射测量仪
上传时间： 2013-06-24
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