Virtex系列FPGA内部互连线测试
伴随着微电子工艺技术的飞速发展和集成电路规模的不断提高,现场可编程门阵列(FPGA)器件的功能更强,复杂度进一步提高,而计算机辅助工具的不断更新使得FPGA器件的设计周期缩短,但却使测试难度增大了,进而导致测试费用和测试时间的增加。如今测试...
Virtex-4技术资料下载专区,收录500份相关技术文档、开发源码、电路图纸等优质工程师资源,全部免费下载。
伴随着微电子工艺技术的飞速发展和集成电路规模的不断提高,现场可编程门阵列(FPGA)器件的功能更强,复杂度进一步提高,而计算机辅助工具的不断更新使得FPGA器件的设计周期缩短,但却使测试难度增大了,进而导致测试费用和测试时间的增加。如今测试...
内容可寻址存储器CAM 是一种快速匹配存储器件, 在通信、雷达等许多领域有着广泛的应用。本文在介绍CAM 基本原理的基础上,提出在两类新型FPGA 上实现CAM 的设计方法,并对两类FPGA 实现CA
This application note describes how the existing dual-port block memories in the Spartan™-IIand Virtex™ fami...
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伴随着微电子工艺技术的飞速发展和集成电路规模的不断提高,现场可编程门阵列(FPGA)器件的功能更强,复杂度进一步提高,而计算机辅助工具的不断更新使得FPGA器件的设计周期缩短,但却使测试难度增大了,进而导致测试费用和测试时间的增加。如今测试...
厂商把产品命名为DDR3-1600,则意味着该厂商将规定该SDRAM器件的峰值传输速率定为1,600MT/s。虽然这些器件确实能够达到所规定的传输速率,但在实际工作负载情况下却不能持续保持该速率。原因在于行地址冲突、数据总线转换损耗、写...