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半导体C-V测量基础是一份系统讲解电容-电压测量原理与应用的技术文档,涵盖半导体器件特性分析、测量方法及数据解读,适用于微电子与半导体领域的研究人员和工程师。

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一套完整的V-BLAST系统,包括发射端的多种调制以及多种接受算法,信道为瑞利信道。

2014-12-08 44 V-I