基于ARM的TimeToCount辐射测量仪的研究
随着半导体工艺的飞速发展和芯片设计水平的不断进步，ARM微处理器的性能得到大幅度地提高，同时其芯片的价格也在不断下降，嵌入式系统以其独有的优势，己经广泛地渗透到科学研究和日常生活的各个方面。 本文以ARM7 LPC2132处理器为核心，结合盖革一弥勒计数管对Time-To-Count辐射测量方法进行...
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TIME-to-Digital转换技术，是现代电子系统中实现高精度时间测量的关键。它广泛应用于雷达、激光测距、粒子物理实验及通信同步等领域，为科研与工业提供了精准的时间间隔测量解决方案。掌握TDC技术不仅能提升您的专业技能，在设计高性能时序电路方面也将更具竞争力。本页面汇集了9828份精选资源，从基础理论到高级应用案例一应俱全，助您快速成长为TDC领域的专家。
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