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TAP(Test Access Port)技术是现代数字电路设计中不可或缺的一部分,广泛应用于芯片测试与调试。通过提供对内部节点的访问,TAP极大地简化了复杂系统的故障诊断过程,提高了开发效率。无论是初学者还是经验丰富的工程师,掌握TAP都能显著增强您在嵌入式系统、微处理器及FPGA项目中的竞争力。本页面汇集了44个精选资源,包括教程、案例分析和技术文档等,旨在帮助您全面了解并熟练运用这一关...

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这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理...

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根据系统级边界扫描测试技术的应用需求,基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器具备三种操作模式:IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和从控制器模式。由上位机控制模件组态到...

👤 canderile ⬇️ 10 次下载

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