随着印制电路板功能的日益增强,结构日趋复杂,系统中各个功能单元之间的连线间距越来越细密,基于探针的电路系统测试方法已经很难满足现在的测试需要。边界扫描测试(BST)技术通过将边界扫描寄存器单元安插在集成电路内部的每个引脚...
基于VXI总线的多功能边界扫描控制器
资料详细技术说明
根据系统级边界扫描测试技术的应用需求,基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器具备三种操作模式:IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和从控制器模式。由上位机控制模件组态到
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