电路图纸
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源码文件
用verilog 编写的双端口RAM的源程序
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FreeRTOSRAM使用情况及优化方法
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High Performance Memory Testing Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (英).pdf
电路图纸
在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作.为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的.通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题.本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提…
技术文档
Over the past several years, the DRAM industry has seen rapidacceptance of synchronous memory as
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The paper describes the magnetic Dipole model of magnetic flux leakage(MFL) basedon the princ
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采用IEEE745格式的浮点+ROM RAM的方式成功实现FFT，含有设计报告和设计源代码.
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Power-constrained Testing of VLSI Circuits (英).pdf
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