Pico专用单片机核的可测性设计研究
本论文从学习基本的IC测试概念开始,对IC测试技术中关心的一些重点问题进行了分析和比较。接着就同步数字逻辑电路的抽象模型及其可测性设计做了详细的论述。随后,结合实际的设计任务,对基于扫描测试的可测性设计的原理、规则进行了阐述。最后,使用ED...
2025-02-09
8