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Pico专用单片机核的可测性设计研究 - 资源详细说明
本论文从学习基本的IC测试概念开始，对IC测试技术中关心的一些重点问题进行了分析和比较。接着就同步数字逻辑电路的抽象模型及其可测性设计做了详细的论述。随后，结合实际的设计任务，对基于扫描测试的可测性设计的原理、规则进行了阐述。最后，使用EDA工具，对一个嵌入式单片机核进行了实际的可测性设计，并对设计结果进行了检查、分析。
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