PHILIPS半导体
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半导体C-V测量基础
半导体C-V测量基础是一份系统讲解电容-电压测量原理与应用的技术文档，涵盖半导体器件特性分析、测量方法及数据解读，适用于微电子与半导体领域的研究人员和工程师。
2026-03-12
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功率半导体应用手册
本手册包含基本的半导体背景知识，能够让读者对应用可能性与应用限制有更好的了解。封装技术与组装技术是影响模块性能与现场应用限制的主要因素，书中对此进行了深入阐释。文章中还论述了可靠性数据、生命周期分析以及关键的测试过程。本应用手册对数据表结构...
2022-01-22
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