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我公司生产的 USBkey 产品所使用的MCU 电路，自2007 年9 月初USBkey 产品开始量产化后，我们对其部分产品做了电老化试验，发现该款电路早期失效问题达不到我们要求，上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右。为此，我们从去年...
本资源深入探讨了铝电解电容器常见的失效模式及其背后的原因，是电子工程师在设计和维护电路时不可或缺的参考资料。通过详细分析不同环境条件下电容器可能出现的问题，帮助读者更好地理解如何选择合适的电容参数以延长设备寿命。特别适合从事电源管理、信号处...
永磁直流微电机作为一种机电能量转换器件，随着永磁新材料的开发，得到了迅猛的发展和广泛的应用。作为元器件，它的失效会关联到相应的工作系统和机构的正常运作，所以微电机的寿命可靠性分析和失效研究显得很重要，是准确估计其相关复杂工程系统稳定可靠性的...
文章分析了驱动和吸收电路对功率器件IGBT 开关过程的影响及其失效 原因,提出了应采取的措施。 关键词 IGBT 驱动 吸收 中图分类号 TM133 文献标识码 A 文章编号 1004 —6429 (2002) 02 —57 ...
为了保证在高温条件下，正确使用高频硅PNP晶体管3CG120，文中对3CG120在不同温度段的失效机理进行了研究。通过对硅PNP型晶体管3CG120进行170~340 ℃温度范围内序进应力加速寿命试验，发现在170~240 ℃，240~...