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随着对IEEE1641标准研究的逐渐深入，信号的构建成为了研究重点。对信号模型进行同步和门控控制，可以影响到TSF（测试信号框架）模型的输出，从而达到控制信号的目的，使测试需求更加完善以及测试过程更加精确。
MIL-STD-1773 技术文档
汇集 MIL-STD-1773 相关的电路原理图、PCB工程文件、单片机/FPGA源代码、数据手册与应用设计方案。
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