MFCC特征
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改善4200-SCS型半导体特征化系统
优化4200-SCS型半导体特征化系统的测试效率,提升整体测试速度与运行时间,适用于半导体参数分析与性能评估。包含关键测试方法与系统配置建议。
2026-03-12
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采用身高和体重数据作为特征
采用身高和体重数据作为特征,分别假设二者相关或不相关,在正态分布假设下估计概率密度,建立最小错误率Bayes分类器,写出得到的决策规则,将该分类器应用到训练/测试样本,考察训练/测试错误情况。
2017-07-04
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