MCU测试

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TD-LTE终端(UE)的功率有4个等级。当前只定义了功率等级3的要求,要求对于所有的TDD频段,在信道带宽内任何发射带宽下的最大输出功率为23dBm,容限为士2dB。发射功率的测量时间至少是一个子帧(1ms)。上述的容限适用于最多支持4个...

2022-08-20 9 MCU测试

随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高,以及对于系统灵敏度等要求的不断提高,对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中,一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号,另一方...

2022-06-19 6 MCU测试

基于51单片机实现的秒表系统,支持按键控制开始、暂停与继续,代码结构清晰,适合嵌入式开发实战。可直接用于项目开发,经过多个实际应用验证,具备良好的稳定性与可扩展性。

2026-03-08 1 MCU测试

聚焦MCU开发中的C语言应用,涵盖寄存器操作、中断处理与底层驱动实现,适合深入理解嵌入式系统开发流程。

2026-03-23 2 MCU测试