LVF光谱仪

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提出了一个考虑FP 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中,截取多个反射回峰,以提高材料参数提取的精确度。另外,考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高,提出了一种有效的厚度优化方法。以GaAs 为待测样品,利用上述方法...

2013-12-16 175 LVF光谱仪

本文针对干涉成像光谱仪,详细分析了干涉成像光谱信号特征及其时序关系,研究了干涉成像光谱数据传输系统的关键技术,提出了使用CPLD 技术,设计基于微机PCI 总线的干涉成像光谱仪输出数据传输系统的方案,

2023-11-26 8 LVF光谱仪