LOG边缘检测

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边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。

2024-05-24 9 LOG边缘检测

近年来提出的光突发交换OBS(Optical．Burst Switching)技术，结合了光路交换(OCS)与光分组交换(OPS)的优点，有效支持高突发、高速率的多种业务，成为目前研究的热点和前沿。 本论文围绕国家“863”计划资助课题“光...

2013-05-26 170 LOG边缘检测

在用小波分解加强图像边缘的基础上，利用修正的形态学边缘检测算子，以减 轻图像边缘检测的模糊性；通过形态结：构元素尺度的调整，得到多尺度下图像边缘的 特征，并综合各尺度下的边缘特征，得到较为理想的图像边缘，实验验证了该算法的可 行性和有...

2014-11-18 86 LOG边缘检测