LCF测量仪
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基于ARM的TimeToCount辐射测量仪的研究
随着半导体工艺的飞速发展和芯片设计水平的不断进步,ARM微处理器的性能得到大幅度地提高,同时其芯片的价格也在不断下降,嵌入式系统以其独有的优势,己经广泛地渗透到科学研究和日常生活的各个方面。 本文以ARM7 LPC2132处理器为核心,结合...
2023-06-20
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数字式电阻、电容和电感测量仪
摘要:本文设计了一种基于MSP430F1611 低功耗单片机的数字式RLC 参数 自动测试仪,采用自由轴法测量电阻、电容、电感的值及相关辅助变量。
2023-03-28
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