IEEE+1149
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基于SO 测试的IEEE P1500
随着集成电路技术的飞速发展以及SOC 系统的出现，电路的测试难度在不断增大，严重制约了SOC 技术的发展，文中从SOC 可测性设计出发全面介绍IEEE P1500，通过研究对比当前适用于SOC 领域的
2023-11-19
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IEEE JSSC论文(1960~2005).part040.rar
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2023-05-14
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IEEE JSSC论文(1960~2005).part106.rar
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2023-05-14
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IEEE JSSC论文(1960~2005).part117.rar
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2023-05-14
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IEEE JSSC论文(1960~2005).part005.rar
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2023-05-15
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IEEE JSSC论文(1960~2005).part049.rar
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2023-05-16
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IEEE JSSC论文(1960~2005).part073.rar
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2023-05-17
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IEEE JSSC论文(1960~2005).part021.rar
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2023-05-18
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