IC测试
任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，IC测试就是集成电路的测试，就是。如果存在无缺陷的产品的话，集成电路的测试也就不需要了。由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而无论怎样完美的产品都会产生不良的个体，因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。
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在软件测试的单元测试中
在软件测试的单元测试中，需要找出满足某种覆盖率（如分支覆盖）的测试数据（函数参数值）来判断被测函数是否有bug。源程序利用遗传算法的全局寻优特性实现了测试数据的自动产生而不用人工凭经验输入参数值。程序中被测试函数用的是三角函数。源码用C++...
2013-12-01
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