IC测试
任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，IC测试就是集成电路的测试，就是。如果存在无缺陷的产品的话，集成电路的测试也就不需要了。由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而无论怎样完美的产品都会产生不良的个体，因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。
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从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成（ATPG）工具 FastScan的 测试文档中提取出测试电路（CUT）的测试模式，生成便于对应压缩算法的文件 格式。 本文中， 给出了 2 种压缩测试模式的方法， 一种是基于统计的...
2017-08-17
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ic卡
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2025-11-28
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2016-07-18
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