IC测试设备

可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合...

2021-10-15 2 IC测试设备

在100G测试中，眼图分析、BER轮廓以及复杂调制给技术人员提出新挑战。其中如何分离抖动及噪音、进行相干光学信号分析等成为重点，为此泰科科技提供系列100G测试方案.

2023-02-08 6 IC测试设备

2013-12-16 171 IC测试设备

2014-01-02 181 IC测试设备

bp网络用于设备故障预测，自己写的，不知道能不能给别人以帮组

2013-11-27 145 IC测试设备

usb设备检测信息采集程序，需要DDK支持

2016-07-25 144 IC测试设备

非常好用的U盘量产工具，我已经用它搞定了不下10个U盘了

2025-05-29 6 IC测试设备

设计制作了一套通过适时监测与分析锚杆受力后的力与位移关系曲线,并加以智能判别和预警,来实现锚杆极限锚固力无损检测的设备。实际应用证明,该设备既能准确测定锚固体系的极限锚固力,又不会破坏锚杆结构体系。

2024-02-02 3 IC测试设备

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