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台式误码仪体积庞大、无法实现集成测试,论文研究了用于VXI总线集成测试系统的E1误码测试技术及其FPGA实现,具有重要的工程应用价值。论文首先论述了误码测试原理,给出基于VXI总线技术及虚拟仪器开发模式的集成测试系统...

2024-05-22 9 FPGA测试

高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基...

2024-05-28 5 FPGA测试