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查看全部 500 份 →CPU可测试性设计
可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合...
2021-10-15
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Rockchip CPU RK3126 技术手册
RK3126 is a high performance Quad-core application processor for tablet. It is ahigh-integration and cost efficient SOC....
2022-08-30
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单时钟CPU控制器
1. 实现能够执行R型、LW、SW、BEQ以及J指令的单时钟控制器，使其能够支持基本的指令。 2. 用Verilog HDL实现单时钟CPU控制器，在ISE上进行波形仿真，并在FPGA上实现
2024-09-17
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