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边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。

2024-05-24 9 BUTTON测试

这是高阻态的一些学习，了解对学单片机非常有用的，希望能对你们有帮助

2023-12-09 10 BUTTON测试

资料->【C】嵌入系统->【C0】嵌入式综合->【2】单片机编程->【编程规范、文档模板】->东软的软件开发文档模板 14册 1.7M->测试计划.doc

2024-09-29 10 BUTTON测试