📚 BIT测试技术资料

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BIT测试，即内置自测试技术，是现代电子系统中不可或缺的可靠性保障手段。通过集成于设备内部的测试电路，实现对硬件故障的自动检测与诊断，广泛应用于航空航天、汽车电子及通信设备等领域。掌握BIT测试技术不仅能够提升产品稳定性，还能有效降低维护成本。本页面汇集了13325份精选资源，涵盖理论研究、设计实例及应用案例，助力工程师深入理解并灵活运用这一关键技术，加速项目开发进程。

🔥 BIT测试热门资料

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文中介绍一种基于DDFS（直接频率合成）技术的可编程音频仪器测试信号源设计。该系统采用单片机作为控制器，以FPGA（现场可编程门阵列）作为信号源的主要平台，利用DDFS技术产生一个按指数衰减的频率可调正弦衰减信号。测试结果表明，该系统产生的信号其幅度可以按指数规律衰减；其频率可以在1～4 KHz频率...

📅 👤 909000580
DDFS 程控 测试信号源 音频仪器

本设计通过采用分割电容阵列对DAC进行优化，在减小了D/A转换开关消耗的能量、提高速度的基础上，实现了一款采样速度为1 MS/s的10-bit单端逐次逼近型模数转换器。使用cadence spectre 工具进行仿真，仿真结果表明，设计的D/A转换器和比较器等电路满足10-bit A/D 转换的要求...

📅 👤 chukeey
bit SAR ADC 10

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