📚 BIT测试技术资料

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BIT测试，即内置自测试技术，是现代电子系统中不可或缺的一部分，广泛应用于航空航天、汽车电子及通信设备等领域。通过集成在电路中的自检功能，BIT测试能够有效提高系统的可靠性和可维护性，减少故障排查时间。对于电子工程师而言，掌握BIT测试原理与实践不仅有助于提升个人技能，还能增强产品竞争力。本页面汇集了13,325份精选BIT测试相关资料，包括最新研究论文、经典案例分析以及实用设计指南等，助力...

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EMC测试

EMC测试资料，介绍EMC基础知识，以及测试项目等...

📅 2013-04-24 👤 极客

EMC 测试

基于FPGA的ADC并行测试方法研究

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实...

📅 2013-06-07 👤 gps6888

FPGA ADC 并行测试方法研究