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本文件包括了一系列应力测试失效机理、最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效，目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。这组测试应该是有区别...

📅 2022-05-08

blackfin中实现的AEC算法，算法模块用汇编实现，供参考...

📅 2014-01-11

包含md5,aec,dec算法，经过编译通过运行测试。...

📅 2016-02-17

实现AEC算法的测试标准，当然有许多测试项目仍然在更新中...

📅 2013-12-02

《原创》汽车级（AEC-Q200）电解电容寿命分析...

📅 2022-02-14

汽车电子行业芯片制造规范文件 AEC-Q100英文版, rev G...

📅 2022-07-16

AEC-Q100 qualified • 12 V and 24 V battery systems compliance • 3.3 V and 5 V logic compatible I/O •...

📅 2019-03-27

苏州纳芯微公司的数字隔离器选型手册2017 年正式推出满足 AEC-Q100 车规级标准的 NSi81xx 系列 EMC 增强型多通道数字隔离芯片，将产品线扩展至通用 IC 领域...

📅 2021-01-26

ad9280_9708 ADDA模块硬件资料+PDF原理图+AD、PADS、CADENCE3中格式原理图库PCB封装库文件:原理图库：Library Component Count : 41Name&...

📅 2021-12-04

S32K1xx Series Reference Manual 用户手册--2029页 Supports S32K116, S32K118, S32K142, S32K144, S32K14...

📅 2022-04-16

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