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  • 电子元器件抗ESD技术讲义.rar

    电子元器件抗ESD技术讲义:引 言 4 第1 章 电子元器件抗ESD损伤的基础知识 5 1.1 静电和静电放电的定义和特点 5 1.2 对静电认识的发展历史 6 1.3 静电的产生 6 1.3.1 摩擦产生静电 7 1.3.2 感应产生静电 8 1.3.3 静电荷 8 1.3.4 静电势 8 1.3.5 影响静电产生和大小的因素 9 1.4 静电的来源 10 1.4.1 人体静电 10 1.4.2 仪器和设备的静电 11 1.4.3 器件本身的静电 11 1.4.4 其它静电来源 12 1.5 静电放电的三种模式 12 1.5.1 带电人体的放电模式(HBM) 12 1.5.2 带电机器的放电模式(MM) 13 1.5.3 充电器件的放电模型 13 1.6 静电放电失效 15 1.6.1 失效模式 15 1.6.2 失效机理 15 第2章 制造过程的防静电损伤技术 2.1 静电防护的作用和意义 2.1.1 多数电子元器件是静电敏感器件 2.1.2 静电对电子行业造成的损失很大 2.1.3 国内外企业的状况 2.2 静电对电子产品的损害 2.2.1 静电损害的形式 2.2.2 静电损害的特点 2.2.3 可能产生静电损害的制造过程 2.3 静电防护的目的和总的原则 2.3.1 目的和原则 2.3.2 基本思路和技术途径 2.4 静电防护材料 2.4.1 与静电防护材料有关的基本概念 2.4.2 静电防护材料的主要参数 2.5 静电防护器材 2.5.1 防静电材料的制品 2.5.2 静电消除器(消电器、电中和器或离子平衡器) 2.6 静电防护的具体措施 2.6.1 建立静电安全工作区 2.6.2 包装、运送和存储工程的防静电措施 2.6.3 静电检测 2.6.4 静电防护的管理工作 第3章 抗静电检测及分析技术 3.1 抗静电检测的作用和意义 3.2 静电放电的标准波形 3.3 抗ESD检测标准 3.3.1 电子元器件静电放电灵敏度(ESDS)检测及分类的常用标准 3.3.2 标准试验方法的主要内容(以MIL-STD-883E 方法3015.7为例) 3.4 实际ESD检测的结果统计及分析 3.4.1 试验条件 3.4.2 ESD评价试验结果分析 3.5 关于ESD检测中经常遇到的一些问题 3.6 ESD损伤的失效定位分析技术 3.6.1 端口I-V特性检测 3.6.2 光学显微观察 3.6.3 扫描电镜分析 3.6.4 液晶分析 3.6.5 光辐射显微分析技术 3.6.6 分层剥离技术 3.6.7 小结 3.7 ESD和EOS的判别方法讨论 3.7.1 概念 3.7.2 ESD和EOS对器件损伤的分析判别方法 第4 章 电子元器件抗ESD设计技术 4.1 元器件抗ESD设计基础 4.1.1抗ESD过电流热失效设计基础 4.1.2抗场感应ESD失效设计基础 4.2元器件基本抗ESD保护电路 4.2.1基本抗静电保护电路 4.2.2对抗静电保护电路的基本要求 4.2.3 混合电路抗静电保护电路的考虑 4.2.4防静电保护元器件 4.3 CMOS电路ESD失效模式和机理 4.4 CMOS电路ESD可靠性设计策略 4.4.1 设计保护电路转移ESD大电流。 4.4.2 使输入/输出晶体管自身的ESD阈值达到最大。 4.5 CMOS电路基本ESD保护电路的设计 4.5.1 基本ESD保护电路单元 4.5.2 CMOS电路基本ESD保护电路 4.5.3 ESD设计的辅助工具-TLP测试 4.5.4 CMOS电路ESD保护设计方法 4.5.5 CMOS电路ESD保护电路示例 4.6 工艺控制和管理

    标签: ESD 电子元器件 讲义

    上传时间: 2013-07-13

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  • FPGA内全数字延时锁相环的设计.rar

    现场可编程门阵列(FPGA)的发展已经有二十多年,从最初的1200门发展到了目前数百万门至上千万门的单片FPGA芯片。现在,FPGA已广泛地应用于通信、消费类电子和车用电子类等领域,但国内市场基本上是国外品牌的天下。 在高密度FPGA中,芯片上时钟分布质量变的越来越重要,时钟延迟和时钟偏差已成为影响系统性能的重要因素。目前,为了消除FPGA芯片内的时钟延迟,减小时钟偏差,主要有利用延时锁相环(DLL)和锁相环(PLL)两种方法,而其各自又分为数字设计和模拟设计。虽然用模拟的方法实现的DLL所占用的芯片面积更小,输出时钟的精度更高,但从功耗、锁定时间、设计难易程度以及可复用性等多方面考虑,我们更愿意采用数字的方法来实现。 本论文是以Xilinx公司Virtex-E系列FPGA为研究基础,对全数字延时锁相环(DLL)电路进行分析研究和设计,在此基础上设计出具有自主知识产权的模块电路。 本文作者在一年多的时间里,从对电路整体功能分析、逻辑电路设计、晶体管级电路设计和仿真以及最后对设计好的电路仿真分析、电路的优化等做了大量的工作,通过比较DLL与PLL、数字DLL与模拟DLL,深入的分析了全数字DLL模块电路组成结构和工作原理,设计出了符合指标要求的全数字DLL模块电路,为开发自我知识产权的FPGA奠定了坚实的基础。 本文先简要介绍FPGA及其时钟管理技术的发展,然后深入分析对比了DLL和PLL两种时钟管理方法的优劣。接着详细论述了DLL模块及各部分电路的工作原理和电路的设计考虑,给出了全数字DLL整体架构设计。最后对DLL整体电路进行整体仿真分析,验证电路功能,得出应用参数。在设计中,用Verilog-XL对部分电路进行数字仿真,Spectre对进行部分电路的模拟仿真,而电路的整体仿真工具是HSIM。 本设计采用TSMC0.18μmCMOS工艺库建模,设计出的DLL工作频率范围从25MHz到400MHz,工作电压为1.8V,工作温度为-55℃~125℃,最大抖动时间为28ps,在输入100MHz时钟时的功耗为200MW,达到了国外同类产品的相应指标。最后完成了输出电路设计,可以实现时钟占空比调节,2倍频,以及1.5、2、2.5、3、4、5、8、16时钟分频等时钟频率合成功能。

    标签: FPGA 全数字 延时

    上传时间: 2013-06-10

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  • MIMOOFDM关键技术研究与FPGA设计.rar

    宽带无线通信的持续高速的需求增长刺激了新的通信技术的不断产生,而这些技术的发展,很大程度上都来自于不同技术的互相补充与融合,这也成为新标准的源泉。正交频分复用(OFDM)技术在提供高效的频谱利用率以及良好的抗多径性能的同时,通过多输入输出(MIMO)技术来进一步增加信道容量,在不增加信号带宽的基础上取得更高的传输速率和更好的传输质量。因此MIMO-OFDM技术近年来在成为研究热点的同时,已被认为是下一带移动通信和网络接入标准中的核心技术。 本文主要对MIMO-OFDM系统物理层的关键技术进行了研究,并主要对系统的同步和信道估计算法进行了深入的分析,并提出了一些改进。最后进行了MIMO-OFDM基带系统基于FPGA的物理层设计,对其中一些关键模块的设计,比如信道估计和空时译码模块进行了详细的讨论。 第一章绪论部分首先结合宽带无线通信技术发展的历史就MIMO-OFDM技术产生发展的背景进行了分析,指出了MIMO-OFDM研究与发展方向,最后总结了本文的工作目标和基本要求。 第二章主要是推导分析了MIMO-OFDM系统的基本原理,先分别从OFDM技术和MIMO技术两方面概括性的介绍了其理论以及技术特点,最后对MIMO与OFDM结合的关键技术进行了讨论。 第三章是对MIMO-OFDM同步算法的研究,主要针对基于训练序列的同步算法进行了深入讨论,关注点是训练序列的设计。针对原有的一些算法进行了总结与比较,并主要对基于频域设计的训练序列符号同步算法做出了改进。 第四章首先从基于导频的信道估计算法推导开始,关注点放在MIMO-OFDM系统下的自适应信道估计算法研究。文章将原有的一些OFDM自适应信道估计算法扩展到MIMO领域,结合基于共轭梯度的自适应算法并做出了一些改进。 第五章节是本文的硬件设计部分,文章基于一个2发2收MIMO-OFDM系统进行了基带数字处理部分的FPGA设计工作,根据设计要求实现了发送端和接收端数据处理的基本功能,为完善的和更高性能的MIMO-OFDM系统实现奠定了基础。

    标签: MIMOOFDM FPGA 关键技术

    上传时间: 2013-06-26

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  • ARM9基础实验教程

    - vii - 8.1.1 实验目的 315 8.1.2 实验设备 315 8.1.3 实验内容 315 8.1.4 实验原理 315 8.1.5 实验操作步骤 318 8.1.6 实验参考程序 319 8.1.7 练习题 321- vi - 6.4 USB 接口实验 266 6.4.1 实验目的 266 6.4.2 实验设备 267 6.4.3 实验内容 267 6.4.4 实验原理 267 6.4.5 实验操作步骤 270 6.4.6 实验参考程序 272 6.4.7 实验练习题 280 6.5 SPI接口通讯实验 281 6.5.1 实验目的 281 6.5.2 实验设备 281 6.5.3 实验内容 281 6.5.4 实验原理 281 6.5.5 实验操作步骤 285 6.5.6 实验参考程序 287 6.5.7 练习题 289 6.6 红外模块控制实验 289 6.6.1 实验目的 289 6.6.2 实验设备 289 6.6.3 实验内容 289 6.6.4 实验原理 289 6.6.5 实验操作步骤 291 6.6.6 实验参考程序 291 6.6.7 练习题 296 第七章 基础应用实验 296 7.1 A/D 转换实验 296 7.1.1 实验目的 296 7.1.2 实验设备 296 7.1.3 实验内容 296 7.1.4 实验原理 296 7.1.5 实验设计 298 7.1.6 实验操作步骤 299 7.1.7 实验参考程序 300 7.1.8 练习题 301 7.2 PWM步进电机控制实验 301 7.2.1 实验目的 301 7.2.2 实验设备 301 7.2.3 实验内容 301 7.2.4 实验原理 301 7.2.5 实验操作步骤 309 7.2.6 实验参考程序 311 7.2.7 练习题 313 第八章 高级应用实验 315 8.1 GPRS模块控制实验 315 - v - 5.2 5x4键盘控制实验 219 5.2.1 实验目的 219 5.2.2 实验设备 219 5.2.3 实验内容 219 5.2.4 实验原理 219 5.2.5 实验设计 221 5.2.6 实验操作步骤 222 5.2.7 实验参考程序 223 5.2.8 练习题 224 5.3 触摸屏控制实验 224 5.3.1 实验目的 224 5.3.2 实验设备 224 5.3.3 实验内容 224 5.3.4 实验原理 224 5.3.5 实验设计 231 5.3.6 实验操作步骤 231 5.3.7 实验参考程序 232 5.3.8 练习题 233 第六章 通信与接口实验 234 6.1 IIC 串行通信实验 234 6.1.1 实验目的 234 6.1.2 实验设备 234 6.1.3 实验内容 234 6.1.4 实验原理 234 6.1.5 实验设计 238 6.1.6 实验操作步骤 241 6.1.7 实验参考程序 243 6.1.8 练习题 245 6.2 以太网通讯实验 246 6.2.1 实验目的 246 6.2.2 实验设备 246 6.2.3 实验内容 246 6.2.4 实验原理 246 6.2.5 实验操作步骤 254 6.2.6 实验参考程序 257 6.2.7 练习题 259 6.3 音频接口 IIS 实验 260 6.3.1 实验目的 260 6.3.2 实验设备 260 6.3.3 实验内容 260 6.3.4 实验原理 260 6.3.5 实验步骤 263 6.3.6实验参考程序 264 6.3.7 练习题 266 - iv - 4.4 串口通信实验 170 4.4.1 实验目的 170 4.4.2 实验设备 170 4.4.3 实验内容 170 4.4.4 实验原理 170 4.4.5 实验操作步骤 176 4.4.6 实验参考程序 177 4.4.7 练习题 178 4.5 实时时钟实验 179 4.5.1 实验目的 179 4.5.2 实验设备 179 4.5.3 实验内容 179 4.5.4 实验原理 179 4.5.5 实验设计 181 4.5.6 实验操作步骤 182 4.5.7 实验参考程序 183 4.6.8 练习题 185 4.6 数码管显示实验 186 4.6.1 实验目的 186 4.6.2 实验设备 186 4.6.3 实验内容 186 4.6.4 实验原理 186 4.6.5 实验方法与操作步骤 188 4.6.6 实验参考程序 189 4.6.7 练习题 192 4.7 看门狗实验 193 4.7.1 实验目的 193 4.7.2 实验设备 193 4.7.3 实验内容 193 4.7.4 实验原理 193 4.7.5 实验设计 195 4.7.6 实验操作步骤 196 4.7.7 实验参考程序 197 4.7.8 实验练习题 199 第五章 人机接口实验 200 5.1 液晶显示实验 200 5.1.1 实验目的 200 5.1.2 实验设备 200 5.1.3 实验内容 200 5.1.4 实验原理 200 5.1.5 实验设计 211 5.1.6 实验操作步骤 213 5.1.7 实验参考程序 214 5.1.8 练习题 219 - ii - 3.1.1 实验目的 81 3.1.2 实验设备 81 3.1.3 实验内容 81 3.1.4 实验原理 81 3.1.5 实验操作步骤 83 3.1.6 实验参考程序 87 3.1.7 练习题 88 3.2 ARM汇编指令实验二 89 3.2.1 实验目的 89 3.2.2 实验设备 89 3.2.3 实验内容 89 3.2.4 实验原理 89 3.2.5 实验操作步骤 90 3.2.6 实验参考程序 91 3.2.7 练习题 94 3.3 Thumb 汇编指令实验 94 3.3.1 实验目的 94 3.3.2 实验设备 94 3.3.3 实验内容 94 3.3.4 实验原理 94 3.3.5 实验操作步骤 96 3.3.6 实验参考程序 96 3.3.7 练习题 99 3.4 ARM处理器工作模式实验 99 3.4.1 实验目的 99 3.4.2实验设备 99 3.4.3实验内容 99 3.4.4实验原理 99 3.4.5实验操作步骤 101 3.4.6实验参考程序 102 3.4.7练习题 104 3.5 C 语言程序实验一 104 3.5.1 实验目的 104 3.5.2 实验设备 104 3.5.3 实验内容 104 3.5.4 实验原理 104 3.5.5 实验操作步骤 106 3.5.6 实验参考程序 106 3.5.7 练习题 109 3.6 C 语言程序实验二 109 3.6.1 实验目的 109 3.6.2 实验设备 109 3.6.3 实验内容 109 3.6.4 实验原理 109 - iii - 3.6.5 实验操作步骤 111 3.6.6 实验参考程序 113 3.6.7 练习题 117 3.7 汇编与 C 语言的相互调用 117 3.7.1 实验目的 117 3.7.2 实验设备 117 3.7.3 实验内容 117 3.7.4 实验原理 117 3.7.5 实验操作步骤 118 3.7.6 实验参考程序 119 3.7.7 练习题 123 3.8 综合实验 123 3.8.1 实验目的 123 3.8.2 实验设备 123 3.8.3 实验内容 123 3.8.4 实验原理 123 3.8.5 实验操作步骤 124 3.8.6 参考程序 127 3.8.7 练习题 134 第四章 基本接口实验 135 4.1 存储器实验 135 4.1.1 实验目的 135 4.1.2 实验设备 135 4.1.3 实验内容 135 4.1.4 实验原理 135 4.1.5 实验操作步骤 149 4.1.6 实验参考程序 149 4.1.7 练习题 151 4.2 IO 口实验 151 4.2.1 实验目的 151 4.2.2 实验设备 152 4.2.3 实验内容 152 4.2.4 实验原理 152 4.2.5 实验操作步骤 159 4.2.6 实验参考程序 160 4.2.7 实验练习题 161 4.3 中断实验 161 4.3.1 实验目的 161 4.3.2 实验设备 161 4.3.3 实验内容 161 4.3.4 实验原理 162 4.3.5 实验操作步骤 165 4.3.6 实验参考程序 167 4.3.7 练习题 170 目 录 I 第一章 嵌入式系统开发与应用概述 1 1.1 嵌入式系统开发与应用 1 1.2 基于 ARM的嵌入式开发环境概述 3 1.2.1 交叉开发环境 3 1.2.2 模拟开发环境 4 1.2.3 评估电路板 5 1.2.4 嵌入式操作系统 5 1.3 各种 ARM开发工具简介 5 1.3.1 ARM的 SDT 6 1.3.2 ARM的ADS 7 1.3.3 Multi 2000 8 1.3.4 Embest IDE for ARM 11 1.3.5 OPENice32-A900仿真器 12 1.3.6 Multi-ICE 仿真器 12 1.4 如何学习基于 ARM嵌入式系统开发 13 1.5 本教程相关内容介绍 14 第二章 EMBEST ARM实验教学系统 17 2.1 教学系统介绍 17 2.1.1 Embest IDE 集成开发环境 17 2.1.2 Embest JTAG 仿真器 19 2.1.3 Flash 编程器 20 2.1.4 Embest EduKit-III开发板 21 2.1.5 各种连接线与电源适配器 23 2.2 教学系统安装 23 2.3 教学系统的硬件电路 27 2.3.1 概述 27 2.3.2 功能特点 27 2.3.3 原理说明 28 2.3.4 硬件结构 41 2.3.5 硬件资源分配 44 2.4 集成开发环境使用说明 51 2.4.1 Embest IDE 主框架窗口 51 2.4.2 工程管理 52 2.4.3 工程基本配置 55 2.4.4 工程的编译链接 71 2.4.5 加载调试 72 2.4.6 Flash编程工具 80 第三章 嵌入式软件开发基础实验 81 3.1 ARM汇编指令实验一 81

    标签: ARM9 基础实验 教程

    上传时间: 2013-04-24

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  • FPGAIP核的设计

    FPGA能够减少电子系统的开发风险和开发成本,缩短上市时间,降低维护升级成本,广泛地应用在电子系统中.随着集成电路向着片上系统(SoC)的发展,需要设计出FPGA IP核用于SoC芯片的设计.该论文的工作围绕FPGA IP核的设计进行,在FPGA结构设计优化和FPGAIP接口方案设计两方面进行了研究.设计改进了适用于数据通路的FPGA新结构——FDP.设计改进了可编程逻辑单元(LC);对可编程连线作为"2层2类"的层次结构进行组织,进行了改进并确定了各种连线的通道宽度;结合对迷宫布线算法的分析以及benchmark电路实验的方法,提出了用于分段式网格连线的开关盒和连接盒新结构,提高连线的面积利用效率.在FPGA IP核的接口方案上,基于边界扫描测试电路提出了FPGA IP核的测试方案;结合扩展边界扫描测试电路得到的编程功和自动下载电路,为FPGA IP核提供了具有两种不同编程方法的编程接口.采用SMIC 0.35um 3层金属CMOS工艺,实现了一个10万系统门规模的FDP结构,并和编程、测试接口一起进行版图设计,试制了FDP100k芯片.FDP100k中包括了32×32个LC,128个可编程IO单元.在FDP100k的芯片测试中,对编程寄存器、各种可编程资源进行测试,并完成电路实现、性能参数测试以及IP核接口的测试,结果表明FPGA IP核的整体功能正确.

    标签: FPGAIP

    上传时间: 2013-04-24

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  • 轻松跟我学Protel99SE电路设计与制版设计实例元件库

    目录 第1章 初识Protel 99SE 1.1 Protel 99SE的特点 1.2 Protel 99SE的安装 1.2.1 主程序的安装 1.2.2 补丁程序的安装 1.2.3 附加程序的安装 1.3 Protel 99SE的启动与工作界面 第2章 设计电路原理图 2.1 创建一个新的设计数据库 2.2 启动原理图编辑器 2.3 绘制原理图前的参数设置 2.3.1 工作窗口的打开/切换/关闭 2.3.2 工具栏的打开/关闭 2.3.3 绘图区域的放大/缩小 2.3.4 图纸参数设置 2.4 装入元件库 2.5 放置元器件 2.5.1 通过原理图浏览器放置元器件 2.5.2 通过菜单命令放置元器件 2.6 调整元器件位置 2.6.1 移动元器件 2.6.2 旋转元器件 2.6.3 复制元器件 2.6.4 删除元器件 2.7 编辑元器件属性 2.8 绘制电路原理图 2.8.1 普通导线连接 2.8.2 总线连接 2.8.3 输入/输出端口连接 2.9 Protel 99SE的文件管理 2.9.1 保存文件 2.9.2 更改文件名称 2.9.3 打开设计文件 2.9.4 关闭设计文件 2.9.5 删除设计文件 第3章 设计层次电路原理图 3.1 自顶向下设计层次原理图 3.1.1 建立层次原理图总图 3.1.2 建立层次原理图功能电路原理图 3.2 自底向上设计层次原理图 3.3 层次原理图总图/功能电路原理图之间的切换 第4章 电路原理图的后期处理 4.1 检查电路原理图 4.1.1 重新排列元器件序号 4.1.2 电气规则测试 4.2 电路原理图的修饰 4.2.1 在原理图浏览器中管理电路图 4.2.2 对齐排列元器件 4.2.3 对节点/导线进行整体修改 4.2.4 在电路原理图中添加文本框 4.3 放置印制电路板布线符号 第5章 制作/编辑电路原理图元器件库 5.1 创建一个新的设计数据库 5.2 启动元器件库编辑器 5.3 编辑元器件库的常用工具 5.3.1 绘图工具 5.3.2 IEEE符号工具 5.4 在元器件库中制作新元器件 5.4.1 制作新元器件前的设置 5.4.2 绘制新元器件 5.4.3 在同一数据库下创建一个新的元器件库 5.4.4 修改原有的元器件使其成为新元器件 5.4.5 从电路原理图中提取元器件库 第6章 生成各种原理图报表文件 6.1 生成网络表文件 6.1.1 网络表文件的结构 6.1.2 网络表文件的生成方法 6.2 生成元器件材料清单列表 6.3 生成层次原理图组织列表 6.4 生成层次原理图元器件参考列表 6.5 生成元器件引脚列表 第7章 设计印制电路板 7.1 肩动印制电路板编辑器 7.2 PCB的组成 7.3 PCB中的元器件 7.3.1 PCB中的元器件组成 7.3.2 PCB中的元器件封装 7.4 设置工作层面 7.5 设置PCB工作参数 7.5.1 设置布线参数 7.5.2 设置显示模式 7.5.3 设置几何图形显示/隐藏功能 7.6 对PCB进行布线 7.6.1 准备电路原理图并设置元器件属性 7.6.2 启动印制电路板编辑器 7.6.3 设定PCB的几何尺寸 7.6.4 加载元器件封装库 7.6.4 装入网络表 7.6.5 调整元器件布局 7.6.6 修改元器件标沣 7.6.7 自动布线参数设置 7.6.8 自动布线器参数设置 7.6.9 选择自动布线方式 7.6.10 手动布线 7.7 PCB布线后的手动调整 7.7.1 增加元器件封装 7.7.2 手动调整布线 7.7.3 手动调整布线宽度 7.7.4 补泪焊 7.7.5 在PcB上放置汉字 7.8 通过PCB编辑浏览器进行PCB的管理 7.8.1 设置网络颜色属性 7.8.2 快速查找焊盘 7.9 显示PCB的3D效果图 7.10 生成PCB钻孔文件报表 ......

    标签: Protel 99 SE 电路设计

    上传时间: 2013-06-17

    上传用户:wanqunsheng

  • 基于FPGA的MJPEG编码器

    在视频传输系统中,最大障碍是视频数据的大数据量传输。故压缩就显得尤为必要。MJPEG是以25帧每秒传输的JPEG图像。本文根据JPEG基本压缩模式,通过前端图像采集芯片输出标准的4:2:2格式的图像流,在XILINX公司的SPARTAN IIE芯片下压缩,获得了良好效果,压缩比达到10:1。中间的各个环节同MATLAB下同等压缩相比,除了精度上有点差别外,基本一致。同专用芯片相比,比专用芯片灵活得多,FPGA内部全部是可编程,烧写不同的程序便可实现不同的压缩。同DSP相比,压缩时间极大的提高,同周霖的“基于DSP技术的静态图像压缩编码”一文中编码所需的时间进行比较(DCT变换消耗4224个指令,量化Z排序耗960指令,huffman编码至少耗1400指令),假设令其采用6000系列DSP,指令周期为6ns,运算速度为1336MIPS。压缩一个8*8DCT块,采用高档的DSP,消耗39tJs,而采用27M的FPGA只需6us,若采用FPGA内部自带的DLL将时钟倍频到54M,则只需要3us.本设计同传统的压缩实现方式相比,在速度和灵活性上有了极大的提高。

    标签: MJPEG FPGA 编码器

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:TI初学者

  • multi-ice2.26.rar

    This release supports Microsoft Windows NT 4.0, Windows 2000, Windows 95, Windows 98, Windows Me, Windows XP, Red Hat Linux 6.1, Red Hat Linux 7.2, Solaris 2.6, 2.7 (7.0), 8.0, HP-UX 10.20, and 11 (see important note below)." multice22.rar

    标签: multi-ice 26

    上传时间: 2013-05-29

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  • 计算机温度控制系统设计

    一、 课程设计(论文)的内容 设计一个由微机(单片机)实现温度控制系统。通过这个过程学习计算机闭环温度控制系统的软硬件设计。 二、课程设计(论文)的要求与数据 1.温度控制指标:60~100℃之间任选;偏差:2℃。 2.在线调整可控硅导通角,通过改变加热丝两端电压调整温箱温度,自行确定控制算法。 3.通过按键设置系统设定温度并在显示器上显示设定温度值和实时温度值。 4. 加热丝两端最高电压为AC220V +/-5%,最高功率为1000W。

    标签: 计算机 温度控制 系统设计

    上传时间: 2013-07-01

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  • 应用于十万门FPGA的全数字锁相环设计

    在过去的十几年间,FPGA取得了惊人的发展:集成度已达到1000万等效门、速度可达到400~500MHz。随着FPGA的集成度不断增大,在高密度FPGA中,芯片上时钟的分布质量就变得越来越重要。时钟延时和时钟相位偏移已成为影响系统性能的重要因素。现在,解决时钟延时问题主要使用时钟延时补偿电路。 为了消除FPGA芯片内的时钟延时,减小时钟偏差,本文设计了内置于FPGA芯片中的延迟锁相环,采用一种全数字的电路结构,将传统DLL中的用模拟方式实现的环路滤波器和压控延迟链改进为数字方式实现的时钟延迟测量电路,和延时补偿调整电路,配合特定的控制逻辑电路,完成时钟延时补偿。在输入时钟频率不变的情况下,只需一次调节过程即可完成输入输出时钟的同步,锁定时间较短,噪声不会积累,抗干扰性好。 在Smic0.18um工艺下,设计出的时钟延时补偿电路工作频率范围从25MHz到300MHz,最大抖动时间为35ps,锁定时间为13个输入时钟周期。另外,完成了时钟相移电路的设计,实现可编程相移,为用户提供与输入时钟同频的相位差为90度,180度,270度的相移时钟;时钟占空比调节电路的设计,实现可编程占空比,可以提供占空比为50/50的时钟信号;时钟分频电路的设计,实现频率分频,提供1.5,2,2.5,3,4,5,8,16分频时钟。

    标签: FPGA 应用于 全数字 锁相环

    上传时间: 2013-07-06

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