高边开关
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边扫描测试
边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的,这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路,以形成全面的电路板级测试协议。
2024-05-24
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基于DSP高频通讯全桥开关电源的研究与设计.rar
近年来,随着大规模集成电路的飞速发展,微控制器和数字信号处理器的性价比不断提高,数字控制技术已逐步应用于大中功率高频开关电源。相对于传统模拟控制方式,数字控制方式具有电源设计灵活、外围控制电路少、可采用较先进的控制算法、具有较高可靠性等优点...
2013-04-24
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