数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用...
非隔离设计技术资料
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基本信息 ·出版社：清华大学出版社 ·页码：360 页 ·出版日期：2005年10月 ·ISBN：7302115095 ·条形码：9787302115090 ·版本：第1版 ·装帧：平装 ·开本：16开 Pages Per Sheet ---------------------...
高速数字电路设计
高速数字电路设计。第一章 互连的重要性，第二章 理想传输线构造，第三章 串扰，第四章 非理想连接问题，第五章 连接器，过孔和封装...
非理想运放构建的低通滤波电路优化设计
分析了基于理想运算放大器构建的滤波器性能以及参数选原则。针对理想运算放大器所构建的滤波器模型当运算放大器为非理想器件时所制造出的滤波器响应性能并不理想这一问题。研究了非理想运算放大器构建的滤波器器件参数对响应时间的影响，提出了一种选取其最优参数值以构建所需滤波器的方法，实验结果表明了该方法的有效性。...
基于ADuC7061的高精度PLC模拟前端设计
针对于工业PLC模拟信号的采集和输出，本文提出了一种基于ADuC7061的高精度模拟前端设计方案。该系统支持双通道的PLC模拟信号输入并提供一路PLC标准电流输出。该系统在-10~70 范围内达到0.2%的电压测量精度和0.2%的电流输出精度。硬件部分以ADuC7061作为测量和控制核心，配合外围模...
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