非门测试
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CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1．掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则;2．学会CMOS与非门主要参数的测试方法。二、预习要求
2024-04-15
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CD4000 双3输入端或非门+单非门 TI CD4001 四2输入端或非门 HIT/NSC/TI/GOL 双4输入端或非门 NSC CD4006 18位串入/串出移位寄存器 NS
CD4000 双3输入端或非门+单非门 TI CD4001 四2输入端或非门 HIT/NSC/TI/GOL 双4输入端或非门 NSC CD4006 18位串入/串出移位寄存器 NSC CD4007 双互补对加反相器...
2017-07-20
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