数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要,直接阅读你所关注的内容。主要内容包括:设计核心,关注嵌入核心和嵌入存储器;系统集成和超大规模集成电路的设计问题;AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计;内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及...
2013-04-24
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