VMOS功率场效应晶体管及其应用-225页-3.2M.pdf
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闩锁效应技术资料
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闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。
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