📚 闩锁效应技术资料

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闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。

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PLL是数字锁相环设计源程序, 其中, Fi是输入频率(接收数据), 数字锁相技术在通信领域应用非常广泛，本例用VHDL描述了一个锁相环作为参考，源码已经调试过。编译器synplicty.Fo(Q5)是本地输出频率. 目的是从输入数据中提取时钟信号(Q5), 其频率与数据速率一致, 时钟上升沿锁定在...

📅 👤 hphh
PLL 数字锁相环 接收 数字

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仪器漏电引起的cmos电路闩锁.pdf
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开关式的 锁相环bh1415的调频参考c程序.lnp
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e848解锁.plg
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锁相环（新）.rc
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主题解锁.cgi
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