📚 闩锁效应技术资料

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闩锁效应(Latch-up)是CMOS集成电路中一个重要的问题,这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。

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摘要: 本文介绍了L ED 显示屏常规型驱动电路的设计方式及其存在的缺陷, 提出了简单的L ED 显示屏恒流驱动方式及电路的实现。关键词:L ED 显示屏 动态扫描 驱动电路中图分类号: TN 873+ . 93   文献标识码:A    文章编号: 1005- 9490(2001) 03- 025...

📅 👤 lingzhichao

数字三相锁相环中含有大量乘法运算和三角函数运算,占用大量的硬件逻辑资源。为此,提出一种数字三相锁相环的优化实现方案,利用乘法模块复用和CORDIC算法实现三角函数运算,并用Verilog HDL硬件描述语言对优化前后的算法进行了编码实现。仿真和实验结果表明,优化后的数字三相锁相环大大节省了FPGA的...

📅 👤 yjj631

多入多出(MIMO)传输技术是第四代移动通信系统的关键技术之一,而小尺寸间隔下天线阵元间的互耦效应则是有可能影响MIMO系统性能的一个重要因素。文中首先研究分析了一种接近实际电波传输环境的、收发端皆存在散射体的双散射MIMO信道传输模型,然后将天线互耦效应引入此MIMO传输系统;接下来通过建立多天线...

📅 👤 leyesome

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