闩锁效应
闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。
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用24C04与1602LCD设计电子密码锁。本设计由主控芯片51单片机，24C04断电存储电路、单片机时钟电路，LCD1602显示电路、键盘和开锁电路组成。单片机负责控制整个系统的执行过程。
2016-06-15
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