闩锁效应

闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。

资源总数

500

闩锁效应热门资料

查看全部 500 份 →

2013-07-09 124 闩锁效应

电子密码锁，有需要可以参考

2016-01-09 61 闩锁效应

8位密码锁，通过LCD12864显示，可以自己任意修改密码～

2015-11-30 187 闩锁效应

锁相环程序，可以用。主要是c语言风格的，在 matlab下也可以用

2016-01-11 133 闩锁效应

数字锁相环，采用costas环的数字形式，实现跟踪载波相位，

2013-12-07 28 闩锁效应

想快速实现一个稳定可靠的电子密码锁？本项目利用24C04存储密码，结合1602LCD显示，轻松完成身份验证功能。适合单片机开发入门与实践。

2026-03-08 2 闩锁效应

电子密码锁，采用基于fpga的设计，可以设置6位密码

2014-01-05 122 闩锁效应

16位锁存器，此程序通过quartusII软件调试通过

2014-01-05 97 闩锁效应