闩锁效应
闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。
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查看全部 500 份 →实时互锁式无线抢答手柄的设计与应用
给出一种实时互锁式无线抢答手柄的设计应用实例，使无线抢答器的死区时间由通常的40 ms锐减为40 μs。其基本思路是：在每只抢答手柄中增加一片射频接收模块和一个电子开关、配以相应的附属电路，使该电子开关受控于接收模块输出信号的有无，并...
2013-11-10
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应用于十万门FPGA的全数字锁相环设计.rar
在过去的十几年间，FPGA取得了惊人的发展：集成度已达到1000万等效门、速度可达到400～500MHz。随着FPGA的集成度不断增大，在高密度FPGA中，芯片上时钟的分布质量就变得越来越重要。时钟延时和时钟相位偏移已成为影响系统性能的重要...
2023-10-03
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