闩锁效应

闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。

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资料->【B】电子技术->【B4】电子专题->【3】视听技术->【锁相技术】->集成锁相环路原理特性应用 489页 6.8M.pdf

2024-10-21 4 闩锁效应

专辑类-器件数据手册专辑-120册-2.15G Tmos功率场效应晶体管原理和应用-292页-9.9M.pdf

2013-07-06 148 闩锁效应

器件数据手册专辑 120册 2.15GTmos功率场效应晶体管原理和应用 292页 9.9M.pdf

2014-05-05 84 闩锁效应

软磁材料中存在巨磁阻抗(giant magneto2impedance ,GMI) 效应以及与之相同来源的应力阻抗(stress2impedance ,SI) 效应,利用这两种效应可以制成具有高灵敏度

2023-11-17 6 闩锁效应

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2023-07-07 6 闩锁效应

首次将电流变(ER) 学引入毛细管电泳(CE) , 提出了电致固化筛分剂的概念,探讨了ER 流体在CE 中的潜在应用. 结果表明, ER 流体由于其独特的电2粘2剪切、电学特性和空间网状结构, 可形成

2024-01-20 7 闩锁效应

倍频锁频，VHDL程序，运行正确，可修改性强，最优处理

2013-12-28 174 闩锁效应

c8051120锁相环，定时器3的初始化和使用

2014-01-16 195 闩锁效应