摘 要: 数字密码锁主要完成上锁、密码输入、密码核对、开启电锁、密码修改等功能.数字密码锁的设计电路主要包括 11 个模块 ,各模块由相应的 VHDL 程序具体实现并分别进行了 MAX + PLUS II 时序仿真. 最后 ,在 MAX +
PLUS Ⅱ环境下进行了整体电路的模拟仿真 ,结果表明 ,整个设计满足要求.
数字存储器和混合信号超大规模集成电路
本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号VLSI系统的测试和可测试性设计。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模块的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP芯核的SOC（System on a chip）测试。
