利用过采样技术提高ADC测量分辨率
提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高。 ...
过孔开窗技术资料
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过孔开窗技术是PCB设计中的关键环节，通过去除焊盘上的阻焊层，实现更可靠的电气连接与焊接。广泛应用于高频电路、精密电子设备及高密度互连板的设计中，对于提升产品性能和可靠性至关重要。掌握此技术不仅能够帮助工程师解决实际工作中的难题，还能在复杂项目中发挥重要作用。本站提供4419个相关资源，涵盖理论知识到实践案例，助力您深入学习并灵活运用这一重要技能。
🔥 过孔开窗热门资料
查看全部4419个资源 »通过过采样提高SOC单片机片内A_D分辨率
叙述了基于过采样技术,使用软件方法提高单片机片内A/ D 分辨率的基本原理及实现方法。给出了一个实现示例,将C8051F040 片内12 位分辨率ADC 提高到16 位分辨率。...
单片机原理及接口技术实验指导书
1.1系统性能指标1.仿真、实验相结合。2.实验模块化结构，互不影响，通过连线又可将各模块有机结合。3.实验内容设置丰富、合理，满足教学大纲要求。4.每项实验连线方便，既能满足学生动手能力愿望，又能充分发挥学生的创新能力，提高教学实验的质量和效率。5.自带集成调试环境，Win9X/NT软件平台，含：...
Luminary的ADC过采样应用笔记
Luminary的ADC过采样应用笔记 本文主要介绍一种Luminary单片机高精度低成本AD转换的实现方法，解决在某些要求高精度ADC领域的Luminary应用问题。...
Stellaris系列微控制器的ADC过采样技术
Luminary Micro在Stellaris系列微控制器的部分产品中提供了模数转换器（ADC）模块。ADC的硬件分辨率为10位，但由于噪音和其它使精度变小的因素的影响，实际的精度小于10位。本应用文档提供了一个基于软件的过采样技术，从而使转换结果的有效位数（ENOB）得到了改善。文档中描述了对输...
💻 过孔开窗源代码
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