基于VXI总线的多功能边界扫描控制器
根据系统级边界扫描测试技术的应用需求,基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器具备三种操作模式:IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和从控制器模式。由上位机控制模件组态到...
根据系统级边界扫描测试技术的应用需求,基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器具备三种操作模式:IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和从控制器模式。由上位机控制模件组态到...
·摘要: 边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计技术,它以特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,能大大提高数字电路的可测试性;采用DSP和边界扫描总线控制芯片74LVT8980设计了边界扫描测试控制器,该控制器采用USB总线与计算机进行通信,实现USB通信协议与边界...
边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试。本文基于IEEE 1149.1标准剖析了JTAG边界扫描测试的精髓,分析了其组成,功能与时序控制等关键技术。 应用在FPGA芯片中的边界扫...
边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试。本文基于IEEE 1149.1标准剖析了JTAG边界扫描测试的精髓,分析了其组成,功能与时序控制等关键技术。 应用在FPGA芯片中的边界扫...
边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试。本文基于IEEE 1149.1标准剖析了JTAG边界扫描测试的精髓,分析了其组成,功能与时序控制等关键技术。 应用在FPGA芯片中的边界扫...