强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应
为研究强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应,在GTEM室内进行了辐照效应实验.实验表明,单片机系统在强电磁脉冲作用下,会出现"死机”、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象.在实验基础上,对单片机系统的各种效应进行了深入研究.
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采用高精度数字温度传感器DS18B20与可编程逻辑器件FPGA实现温度测量与控制,并进行温度场的测量与控制实验。实验表明,一维控制器控制精度不够,温度超调比较大(1 ℃),而二维控制器的温度超调就比较小(0.5 ℃)。因此,所设计的射频温度...
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