跨层时隙调度

共 105 篇文章
跨层时隙调度 相关的电子技术资料,包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等,共 105 篇文章,持续更新中。

模拟cmos集成电路设计(design of analog

<P>模拟集成电路的设计与其说是一门技术,还不如说是一门艺术。它比数字集成电路设计需要更严格的分析和更丰富的直觉。严谨坚实的理论无疑是严格分析能力的基石,而设计者的实践经验无疑是诞生丰富直觉的源泉。这也正足初学者对学习模拟集成电路设计感到困惑并难以驾驭的根本原因。.<BR>美国加州大学洛杉机分校(UCLA)Razavi教授凭借着他在美国多所著名大学执教多年的丰富教学经验和在世界知名顶级公司(AT&

什么是超电解电容器

什么是超级电容器? <BR><BR>◆ 超级电容器(supercapacitor,ultracapacitor),又叫双电层电容器(Electrical Doule-Layer Capacitor)、黄金电容、法拉电容,通过极化电解质来储能。它是一种电化学元件,但在其储能的过程并不发生化学反应,这种储能过程是可逆的,也正因为此超级电容器可以反复充放电数十万次。 <BR><BR>◆ 超级电容器可以被

基于MDK RTX 的COrtex-M3 多任务应用设计

基于MDK RTX 的COrtex&mdash;M3 多任务应用设计<br /> 武汉理工大学 方安平 武永谊<br /> 摘要:本文描述了如何在Cortex&mdash;M3 上使用MDK RL&mdash;RTX 的方法,并给出了一个简单的多任务应用设计。<br /> 关键词:MDK RTX,Cortex,嵌入式,ARM, STM32F103VB<br /> 1 MDK RL&mdash;RT

功率MOSFET并联应用

从线路布线和参数配置等方面分析了导致MOSFET并联时电压和电流不均衡的原因,并联MOSFET易产生振荡的原因作了详细的分析,并辅以仿真说明振荡产生的原因。

反激变换器的变压器学习

<p> 对反激变压器漏感的一些认识_漏感与气隙的大小关系不大。耦合系数随着气隙的增大而下降。气隙增大会引起效率降低是因为Ipk的增大,漏感能量增大。气隙增大会引起绕组损耗增大是因为气隙扩散损耗的增大。</p> <p> <img alt="" src="http://dl.eeworm.com/ele/img/319641-111230151011N7.jpg" style="width: 17

x电容和y电容介绍

X电容是指跨于L-N之间的电容器, Y电容是指跨于L-G/N-G之间的电容器。(L=Line, N=Neutral, G=Ground).

带有增益提高技术的高速CMOS运算放大器设计

<span style="color: rgb(0, 0, 0); font-family: 'Trebuchet MS', Arial; line-height: 21px; ">设计了一种用于高速ADC中的高速高增益的全差分CMOS运算放大器。主运放采用带开关电容共模反馈的折叠式共源共栅结构,利用增益提高和三支路电流基准技术实现一个可用于12~14 bit精度,100 MS/s采样频率的高速流

COOLMOS_原理结构

看到不少网友对COOLMOS感兴趣,把自己收集整理的资料、个人理解发出来,与大家共享。个人理解不一定完全正确,仅供参考。COOLMOS(super junction)原理,与普通VDMOS的差异如下:<br /> 对于常规VDMOS器件结构,大家都知道Rdson与BV这一对矛盾关系,要想提高BV,都是从减小EPI参杂浓度着手,但是外延层又是正向电流流通的通道,EPI参杂浓度减小了,电阻必然变大,R

在AD9981上实现自动失调功能

<div> AD9981是首款集成自动失调功能的显示电子器件(DEPL)。自动失调功能通过计算所需的失调设置来工作,从而在箝位期间产生给定的输出代码。当自动失调使能时(寄存器0x1B:5 = 1),寄存器0x0B-0x10的设置由自动失调电路用作期望的箝位代码(或目标代码),而非失调值。电路会在箝位后(但仍在&ldquo;后肩&rdquo;期间)输出代码和目标代码作比较,然后上调或下调失调以进行

基于能量检测的频谱感知方法研究

认知无线电是一种用于提高无线通信频谱利用率的新的智能技术,检测频谱空穴是否存在是实现认知无线电的前提和关键技术之一。首先简述认知无线电的背景和概念, 针对认知无线电的频谱感知功能,介绍了基于能量检测的频谱检测方法,并在Matlab环境下进行了仿真实验, 比较在相同的虚警概率情况下的检测概率与信噪比的关系。仿真实验结果表明,在相同的虚警概率时,当信噪比大的时候,检测概率越大。<br /> <br /

MT-016 DAC基本架构III:分段DAC

当我们需要设计一个具有特定性能的DAC时,很可能没有任何一种架构是理想的。这种情况下,可以将两个或更多DAC组合成一个更高分辨率的DAC,以获得所需的性能。这些DAC可以是同一类型,也可以是不同类型,各DAC的分辨率无需相同

MT-018 有意为之的非线性DAC

通常,我们都是在强调数据转换器中保持良好微分和积分线性度的重要性。不过,在一些 情况下,有意为之的非线性ADC和DAC(但保持良好的微分线性度)会非常有用,尤其是在 处理具有宽动态范围的信号时。

ADC的九个关键指标

<p> &nbsp;</p> <p>   模拟转换器性能不只依赖分辨率规格</p> <p>   大量的模数转换器(ADC)使人们难以选择最适合某种特定应用的ADC器件。工程师们选择ADC时,通常只注重位数、信噪比(SNR)、谐波性能,但是其它规格也同样重要。本文将介绍ADC器件最易受到忽视的九项规格,并说明它们是如何影响ADC性能的。</p> <p>   1. SNR比分辨率更为重要。</

基于EEMD的故障微弱信号特征提取研究

<span style="color: rgb(0, 0, 0); font-family: 'Trebuchet MS', Arial; font-size: 11.818181991577148px; line-height: 21px; ">总体平均经验模式分解(EEMD)方法是一种先进的时频分析方法,非常适合于对非平稳故障微弱信号的分析处理。文中介绍了EEMD方法的原理与算法实现步骤,重点

运算放大器增益稳定性第3部分-AC增益误差分析

<div> 本小节将回顾运算放大器增益带宽乘积 (GBWP) 即 G&times;BW 概念。在计算 AC闭环增益以前需要 GBWP 这一参数。首先,我们需要 GBWP(有时也称作GBP),用于计算运算放大器闭环截止频率。另外,我们在计算运算放大器开环响应的主极点频率 f0 时也需要 GBWP。在 f0 以下频率,第 2 部分的 DC 增益误差计算方法有效,因为运算放大器的开环增益为恒定;该增益

基于巴氏距离和LPP相结合的人脸识别

<span id="LbZY">局部保持映射(Locality Preserving Projection,LPP)算法是一种有效的特征提取方法。提出了利用巴氏距离和LPP相合算法对特征进行提取。当特征维数过高时,首先对样本用LPP进行特征提取和降维处理,然后采用巴氏距离特征的迭代算法,得到最小错误率上界。在ORL上实验,实验结果表明了提出算法在人脸识别中的有效性。</span>

SIMATIC逻辑堆栈指令

9.16 SIMATIC 逻辑堆栈指令<BR>栈装载与 (ALD)<BR>ALD 指令对堆栈中的第一层和第二层的值进行逻辑与操作结<BR>果放入栈顶执行完 ALD 指令后堆栈深度减 1<BR>操作数 无<BR>栈装载或 (OLD)<BR>OLD 指令对堆栈中的第一层和第二层的值进行逻辑或操作<BR>结果放入栈顶执行完 OLD 指令后堆栈深度减 1<BR>操作数 无<BR>逻辑推入栈<BR>LPS

一种面向瞬时故障的容错技术的形式化方法

<span id="LbZY">软件发生瞬时故障时,可能会导致处理器状态改变,致使程序执行出现数据错误或者控制流错误。目前已有许多软件、硬件以及混合的解决方案,主要的方法是重复计算和检查副本的一致性。但是,生成正确的容错代码十分困难,而且几乎没有关于证明这些技术的正确性的研究。类型化汇编语言(TAL)是一种标准的程序安全性证明的方式。本文概述了一种面向瞬时故障的软硬结合的容错方法,以及对该方法的形

节目传输调度系统的电磁兼容性研究

<p> 文中在阐释电磁干扰及电磁兼容性的基础上,结合工程实践,分析了处于强电磁环境中的节目传输调度系统干扰信号的耦合路径,就抑制系统内外的电磁干扰、改善和提高系统的电磁兼容性指标的措施进行了论证。</p> <p> <img alt="" src="http://dl.eeworm.com/ele/img/177094-12020Q502095Y.jpg" /></p>

ADC需要考虑的交调失真因素

<p> &nbsp;</p> <div> 交调失真(IMD)是用于衡量放大器、增益模块、混频器和其他射频元件线性度的一项常用指标。二阶和三阶交调截点(IP2和IP3)是这些规格参数的品质因素,以其为基础可以计算不同信号幅度下的失真积。虽然射频工程师们非常熟悉这些规格参数,但当将其用于ADC时往往会产生一些困惑。本教程首先在ADC的框架下对交调失真进行定义,然后指出将IP2和IP3的定义应用于A