试问
共 69 篇文章
试问 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 69 篇文章，持续更新中。
开发板使用说明
想快速上手51单片机开发板？这份指南详细解析了从硬件连接到程序烧录的全流程，解决常见调试问题，适合初学者和进阶者参考。
MSP_EXP430F5529_Dri_Book.pdf
想要快速上手MSP_EXP430F5529开发板？这份驱动教程涵盖硬件配置、寄存器操作和外设使用，适合嵌入式开发人员解决实际项目中的底层调试问题。
CyConsole
在进行Cypress测试时，是否遇到过难以追踪的调试问题？CyConsole是一款专为Cypress设计的控制台工具，它能够帮助开发者更高效地读取和烧写程序文件。通过简化复杂的调试流程，CyConsole让您可以更加专注于代码逻辑本身，从而大大提高开发效率。
208个必须搞掂的面试难题
这份精心整理的《208个必须搞掂的面试难题》资料，涵盖了电子工程、嵌入式开发等多个领域的中英文面试问题及答案。无论是准备进入职场的新手还是希望提升自我价值的在职工程师，都能从中找到适合自己的学习材料。内容详尽且实用性强，帮助您全面掌握面试技巧，轻松应对各种技术挑战。现在即可免费下载完整版，为您的职业生涯添砖加瓦。
TM4C123BE6PM
本资源提供了TI官方出品的Cortex-M4核ARM处理器TM4C123BE6PM详尽的数据手册，内容覆盖了该芯片的所有功能特性、电气参数及应用指南等关键信息。对于从事嵌入式系统开发、特别是基于ARM架构进行项目设计的工程师来说，这份资料是不可或缺的技术参考。无论您是在规划新产品的硬件选型还是在解决现有项目的调试问题，都能从中获得宝贵的信息支持。现在即可免费下载完整版数据手册。
ARM9开发板开发板调试问题
ARM9开发板开发裸机板调试过程可能遇到的问题解答
ov9650驱动测试程序
解决ov9650测试问题，初始化问题等等。裸机跑ARM7
嵌入式逻辑分析仪在FPGA测试中的应用
逻辑分析仪自1973年问世以来，在短短几十年的时间内得到了迅速的发展。传统逻辑分析仪利用芯片的引脚对信号采样，并送到显示部分对系统进行分析，但对于无引脚的封装类型，传统逻辑分析仪很难有效的监测系统内部信号。而在FPGA测试中，嵌入式逻辑分析仪（ELA）的出现解决了内部信号的在线调试问题。
脊波导宽频带电磁参数测试技术
<P>针对高损耗介质材料电磁参数的宽频带测试问题，提出了利用脊波导进行测试的新方法，建立了电磁参数测试系统，并采用TRL技术进行了系统校准。该方法仅用3个波段的脊波导即可覆盖2.0～18.0 GHz宽
基于FPGA的可测性设计方法研究
现场可编程门阵列(FPGA)是一种现场可编程专用集成电路，它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体，如今，FPGA系列器件已成为最受欢迎的器件之一。随着FPGA器件的广泛应用，它在数字系统中的作用日益变得重要，它所要求的准确性也变得更高。因此，对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义。随着FPGA器件的迅速发展，FPGA的密度和复杂程度也越来越高，使大量的故障难以
基于嵌入式计算机PC/104的某火箭弹自动测试仪
为了解决某火箭弹的性能测试问题，介绍了应用嵌入式计算机PC/104 来设计火箭弹的自动测试仪，给出了该测试仪的硬件设计和软件设计。<BR>关键词：自动测试 PC/104 数据采集<BR>变滚转速率火箭
JAVA
面试用的百科全书，综合了各种面试问题，大家抓紧下载啊，很不错的资料
FPGA的边界扫描测试方法研究
现场可编程门阵列(FPGA)是一种新型器件,它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体.如今,FPGA系列器件已成为最受欢迎的器件之一.随着FPGA器件的广泛应用,它在数字系统中的作用日益变得重要,它所要求的准确性也变得更高.因此,对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义.随着集成电路规模的迅速膨胀,电路结构变得复杂,使大量的故障不可测.所以,人们把视线转向了可测性
基于PC/104 的某型导弹舵机故障诊断测试仪
为了解决某型导弹舵机性能测试问题，介绍了应用嵌入式计算机PC/104 来设计舵机的故障诊断测试仪，给出了该系统的硬件设计和软件设计。通过研究表明，该系统能实现该型装备故障的快速、准确定位与诊断, 具有
基于VXI总线C012串行通信模块设计
C012 是一种较为特殊的串行通信协议。为解决某ATE 系统中对具有C012 串行通信设备的测试问题，提出了一种基于VXI 总线通用接口设计方案。通过VXI 接口电路设计、串行通信电路设计、接口驱动电
FPGA测试技术研究
论文首先介绍了SRAM型FPGA的典型代表XC4000系列的结构和主要特性，并对XC4000系列器件的配置模式和配置顺序做了简单介绍。根据XC4000系列器件各组成模块的功能和特点，可以将其分为可编程逻辑功能块(CLB)、输入输出功能块(IOB)、互连资源(IR)、可配置接口模块(CIM)和进位逻辑(CLM)等五大部分组成。 对于这五个功能模块，可以采用“分治法”分别考虑各个模块的测试问题。论
基于BIST的带时延故障的FPGA测试
随着超大规模集成电路的迅速发展，90纳米技术已经应用，上千万门的集成电路已经产生。一方面，芯片封装越来越小，引脚越来越密，印制电路饭的密度日益增大，芯片的互连测试成为一个亟待解决的问题。另一方面，芯片或功能模块内部有很多节点无法探测，对这些节点和功能块测试是又一个测试的难题。随着集成电路的进一步发展，使用外部设备测试电路板将更加困难。近年来提出的可测性设计(DesignforTestability
基于FPGA的可测性设计方法研究.rar
现场可编程门阵列(FPGA)是一种现场可编程专用集成电路，它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体，如今，FPGA系列器件已成为最受欢迎的器件之一。随着FPGA器件的广泛应用，它在数字系统中的作用日益变得重要，它所要求的准确性也变得更高。因此，对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义。随着FPGA器件的迅速发展，FPGA的密度和复杂程度也越来越高，使大量的故障难以
linux面试题.rar
一些Linux的基础问题，个人感觉还不错，是linux程序员的面试问题，喜欢的朋友可以下来看看！！
FPGA时延故障测试技术研究.rar
现场可编程门阵列FPGA是一种现场可编程专用集成电路，它将通用门阵列结构与现场可编程的特性结合于一体，如今，FPGA系列器件己成为最受欢迎的器件之一。随着FPGA器件的应用越来越广泛，FPGA的测试技术得到了广泛重视和研究。基于FPGA可编程的特性，应用独立的测试(工厂测试)需要设计数个测试编程和测试向量来完成FPGA的测试，确保芯片在任何用户可能的编程下都可靠工作。因此，对FPGA器件的故障测试