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本书内容包括： 快速有效的测试存储器芯片 如何写入和擦除快闪存储器 用循环冗余校验码验证非易失性存储器数据 与芯片的内部外设和外部外设接口 设计和实现设备驱动 优化嵌入式软件 最大限度高性能的应用C++特性 本书适用于嵌入式系统程序员、设计师和项目管理人员...
设计测试技术资料
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