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边扫描测试
边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。
2024-05-24
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高速边界扫描主控器设计
分析边界扫描测试技术的工作机制和对测试支撑系统的功能需求，提出一种基于USB总线的高速边界扫描测试主控器的设计方案。利用CY7C68013作为USB2.0接口控制器，使用CPLD实现JTAG主控硬核，
2023-12-28
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