芯片测试

芯片测试，设计初期系统级芯片测试。SoC的基础是深亚微米工艺，因此，对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。

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· 摘要：  在传统的RTL级芯片测试方法的基础上,利用了XML技术强大的描述能力,提出一种基于XML技术的RTL级测试方法,并应用于DSP芯片测试中,证明了这种新方法更加高效、方便.  

2024-07-08 1 芯片测试