脉冲测试

脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应(例如I2R和V2/R),避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件(DUT)施加间隔很短的脉冲,产生高品质的可测信号,然后去掉信号源。

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 1  系统功能   本系统拟定对频率范围在1~50 kHz左右的TTL电平脉冲序列进行多路延迟处理。各路延迟时间分别由单片机动态设定,最大延迟时间为1 ms,最大分辨率为0.15 ns级。  3  方...

2015-04-25 2 脉冲测试